如何利用光纤光谱仪搭建系统进行反射、透射、吸收、荧光等吸光度测量？

　　ATX2000是奥谱天成研制的高性能低噪声型吸光度、荧光测量系统，该系统完全由奥谱天成公司自主研发，由长寿命脉冲氙灯、低噪声光纤光谱仪、吸光度荧光多功能测量样品池、光纤、准直系统等组成，其中低噪声光纤光谱仪，采取了优化的光学、电子学设计，从而大幅降低了传感器的噪声，获得了极佳的信噪比(比同类竞争对手提高了约5倍)，而且提高了ATX2000的测量可靠性，测量结果不随环境温度变化。

　　ATX2000经过简单的配置，可以进行反射、透射、吸收、荧光等各种光谱的测量研究。

　　ATX2000采用寿命长达10^9次闪烁次数的脉冲氙灯(波长范围190-1100nm)，正常使用可以长达5年以上，不需要更换光源。

　　ATX2000只需要一个5V直流电源供电，外加一台电脑，就可以工作，非常简单易用。

ATX2000高性能低噪声型吸光度、荧光测量系统特点：

　　Ø 吸光度、荧光等多功能测量;

　　Ø 测量波长范围：190-1100nm;

　　Ø 吸光度可以高达3.2;

　　Ø 无需预热，上电即使用;

　　Ø 荧光滤光片可拆换;

　　Ø 超低噪声CCD信号处理电路

　　Ø 光谱分辨率: 1.6 nm

　　Ø 光路结构：交叉C-T

　　Ø 测量时间：2ms-130s(软件可设置)

　　Ø 光谱仪控制光源，可以同步测量;

　　Ø 供电电源：DC 5V±10% @ <2.3A

　　Ø 光输入接口：SMA905或自由空间

　　Ø 数据输出接口: USB2.0 (High speed)或UART

　　Ø 20针双排可编程外扩接口

ATX2000高性能低噪声型吸光度、荧光测量系统典型应用：

　　Ø 高校、研究所等实验室;

　　Ø 多参数在线水质分析仪;

　　Ø 微量、快速分光光度计;

　　Ø 光谱分析、辐射分光分析、分光光度分析

　　Ø 荧光光谱仪;

　　Ø 生化分析仪;

　　Ø 透过率、吸光度检测;

　　Ø 反射率检测;

ATX2000低噪声吸光度、荧光一体会测量方案

　　探测光谱范围190-1100 nm

　　光学分辨率1.6 nm

　　吸光度测量范围0-3.2

　　入射光接口SMA905光纤接口

　　光纤长度>1.5m

　　测量光学孔径Ø5mm

　　测量光程10mm

　　工作温度-10-45 oC

　　工作湿度< 90%RH

光谱仪

　　类型低噪声线阵传感器

　　探测光谱范围190-1100 nm

　　有效像素2048

　　像元尺寸200μm×14μm

　　光学分辨率1.6 nm

　　性噪比>2300:1

　　动态范围8000：1

　　光学设计f/4 交叉非对称C-T光路

　　焦距40 mm for incidence / 60 mm for output

电气参数

　　积分时间1 ms - 130 second，软件可设定

　　数据输出接口USB 2.0

　　ADC位深16 bit

　　供电电源DC 5V±10%

　　工作电流<2.3A

　　存储温度-20°C to +70°C

　　操作温度-10°C to +45°C

脉冲氙灯

　　使用寿命≥109

　　宽光谱185nm-2000nm

　　预热时间无需预热，立即启动

　　功率5W
 

ATX2000高性能低噪声型吸光度、荧光测量系统组成结构

　　ATX2000光谱测量系统通常包括了光谱仪、光源、光纤、样品支架、标准参比样品、和软件等部件，各个部分的组成如下：

　　1) 低噪声光纤光谱仪;

　　2) 长寿命脉冲氙灯，宽谱紫外、可见、近红外光源;

　　3) 光谱仪、脉冲氙灯同步控制电路板;

　　4) 高透过率紫外光纤;

　　5) 透射、反射、荧光一体化多功能测量样品池;

　　6) Optosky_Spectral专业光谱测量软件。

　　每个组成的光谱部分都有其光谱范围。因此，需要根据用户的实际需求，选择合适的光谱范围。例如，为了测量紫外部分的光谱，就需要使用能够检测紫外波段的紫外敏化光谱仪或面阵背照式光谱仪，以及具有紫外辐射的宽谱段光源。
 

ATX2000高性能低噪声型吸光度、荧光测量系统使用指南

图1 ATX2000系统图

图2 ATX2000透射测量原理示意图　　

图3 透射原理示意图

图4 荧光测量模式原理图

图5 增强型荧光测量模式原理图

图6 反射、透射、荧光一体化样品池

　　2 成功案例

　　1) 快速紫外可见分光光度计;

　　2) 多参数水质分析仪;

　　3) 微量分光光度计