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ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪
ATP5020 制冷微型光纤光谱仪
制冷型/高分辨率/低噪声
一、产品概述
ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪，它采用2048×64像素的制冷型线性CCD，CCD采用半导体制冷技术，CCD可工作在设定的恒温环境（最低可达-15ºC），从而大幅降低了传感器的噪声，获得了极佳的信噪比（比同类竞争对手提高了约2倍），而且提高了ATP5020的测量可靠性，测量结果不随环境温度变化。
同时，奥谱天成为ATP5020特别定制了超低噪声CCD信号处理电路，其量化噪声小于3 counts，为业界最佳水平。ATP5020可接收SMA905光纤输入光或者自由空间光，通过USB2.0或者UART端口，输出测量所得的光谱数据。ATP5020只需要一个5V直流电源供电，非常便于集成使用。
二、特点：
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探测器：背照式CCD（制冷至-15 oC）
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探测器像素：2048×64
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超低噪声CCD信号处理电路
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光谱范围: 600-1180nm
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光谱分辨率: 0.1-2 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)
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光路结构：交叉C-T
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积分时间：2ms-130s
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供电电源：DC 5V±10% @ <2.3A
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18 bit, 570KHz A/DConverter
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光输入接口：SMA905或自由空间
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数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART
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20针双排可编程外扩接口
三、典型应用：
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拉曼光谱仪
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微量、快速分光光度计；
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光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
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透过率、吸光度检测；
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反射率检测；
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紫外、可见和短波近红外
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波长检测
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探测器 |
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类型 |
线阵背照式CCD (制冷到 -15ºC) |
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探测光谱范围 |
190-1100 nm |
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有效像素 |
2048×64 |
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像元尺寸 |
14μm×14μm |
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全量程范围 |
~200 ke- |
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灵敏度 |
6.5 uV/e- |
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暗噪声 |
6 e- |
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光学参数 |
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波长范围 |
600-1180 nm |
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光学分辨率 |
0.1-4 nm （取决于狭缝、光谱范围） |
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性噪比 |
>1300:1 |
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动态范围 |
5000：1 |
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工作温度 |
-10-40 oC |
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工作湿度 |
< 85%RH |
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光路参数 |
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光学设计 |
f/4 交叉非对称C-T光路 |
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焦距 |
40 mm for incidence / 60 mm for output |
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入射狭缝宽度 |
5、10、25、50、100、150、200 μm 可选，其他尺寸可定制 |
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入射光接口 |
SMA905光纤接口、自由空间 |
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电气参数 |
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积分时间 |
1 ms - 130 second |
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数据输出接口 |
USB 2.0 |
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ADC位深 |
18 bit |
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供电电源 |
DC 5V±10% |
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工作电流 |
<2.3A |
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存储温度 |
-20°C to +70°C |
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操作温度 |
-10°C to +40°C |
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物理参数 |
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尺寸 |
170×110×52 mm3 |
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重量 |
0.8 kg |
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Sealing |
Anti-sweat |
ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪
