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ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪

发布时间:2019/04/05 点击量:


ATP5020 制冷微型光纤光谱仪
制冷型/高分辨率/低噪声

ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪

一、产品概述

       ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪,它采用2048×64像素的制冷型线性CCD,CCD采用半导体制冷技术,CCD可工作在设定的恒温环境(最低可达-15ºC),从而大幅降低了传感器的噪声,获得了极佳的信噪比(比同类竞争对手提高了约2倍),而且提高了ATP5020的测量可靠性,测量结果不随环境温度变化。 

       同时,奥谱天成为ATP5020特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界最佳水平。ATP5020可接收SMA905光纤输入光或者自由空间光,通过USB2.0或者UART端口,输出测量所得的光谱数据。ATP5020只需要一个5V直流电源供电,非常便于集成使用。

二、特点:

  •  探测器:背照式CCD(制冷至-15 oC

  •  探测器像素:2048×64

  •  超低噪声CCD信号处理电路

  • 光谱范围: 600-1180nm

  • 光谱分辨率: 0.1-2 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)

  • 光路结构:交叉C-T

  • 积分时间:2ms-130s

  •  供电电源:DC 5V±10% @ <2.3A

  • 18 bit, 570KHz A/DConverter

  • 光输入接口:SMA905或自由空间

  • 数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART

  • 20针双排可编程外扩接口

三、典型应用:

  • 拉曼光谱仪

  • 微量、快速分光光度计;

  • 光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析

  • 透过率、吸光度检测;

  • 反射率检测;

  • 紫外、可见和短波近红外 

  • 波长检测

探测器

类型

线阵背照式CCD   (制冷到 -1C)

探测光谱范围

190-1100 nm

有效像素

2048×64

像元尺寸

14μm×14μm 

全量程范围

~200 ke-

灵敏度

6.5 uV/e-

暗噪声

6 e-

光学参数

波长范围

600-1180 nm

光学分辨率

0.1-4   nm (取决于狭缝、光谱范围)

性噪比

>1300:1 

动态范围

5000:1

工作温度

-10-40 oC

工作湿度

< 85%RH

光路参数

光学设计

f/4 交叉非对称C-T光路

焦距

40 mm for incidence / 60 mm for   output

入射狭缝宽度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纤接口、自由空间

电气参数

积分时间

1 ms - 130 second

数据输出接口

USB 2.0

ADC位深

18   bit

供电电源

DC 5V±10%

工作电流

<2.3A

存储温度

-20°C   to +70°C

操作温度

-10°C   to +40°C

物理参数

尺寸

170×110×52 mm3

重量

0.8 kg

Sealing

Anti-sweat

ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪
ATP5020-制冷型超高分辨率光纤光谱仪